DAK開放(fang)式(shi)同(tong)軸(zhou)介電(dian)測量系(xi)統(tong)基(ji)于(yu)精密的探頭(tou)設計用于(yu)覆蓋(gai)4 MHz -?67?GHz頻(pin)率范圍，具有三(san)個開放(fang)的(de)同軸介電探頭(tou)。該(gai)系統(tong)采用先進的(de)算(suan)法(fa)和新穎(ying)的(de)硬(ying)件，可以(yi)在廣泛的(de)參(can)數范圍內測量(liang)(liang)液體(ti)及(ji)半固體(ti)的(de)介電特性。該(gai)測量(liang)(liang)方法(fa)快速且對被測材料無損。樣品體(ti)積應(ying)該(gai)足夠大(da)，以(yi)確保樣品邊界處的(de)反射(she)不會顯著影響(xiang)測量(liang)(liang)結果(guo)。最小樣本量(liang)(liang)取決(jue)于頻(pin)率、探頭(tou)尺寸(cun)和介電參(can)數。
準確測量(liang)表征液體、半(ban)固體在在4MHz~67GHz寬頻率范圍(wei)內的相對介電(dian)常數（ε‘和ε“）的實部(bu)和虛部(bu)。
提供高(gao)精度介電參數(shu)測量(介電常(chang)數、電導率、損(sun)耗角正切)
