?DAK-R是一(yi)種(zhong)創新的非(fei)破壞(huai)性(xing)介電(dian)測量解(jie)決(jue)方案，專(zhuan)為(wei)薄(bo)型(xing)低損耗基材（厚度0.05–3 mm）設(she)計。
?基于先進的分體式諧振腔(qiang)技術（SCR），與傳統諧振腔(qiang)不同，DAK-R通過創新腔體設計和先進求解器，抑(yi)制了(le)不必要的諧(xie)振，擴(kuo)展(zhan)了(le)介電常(chang)數測量(liang)范圍，
并實現了同時在10 GHz、17 GHz、26 GHz、35 GHz和45 GHz頻(pin)率下的寬帶精確測(ce)量。
?符合(he)IPC測試方法TM-650 2.5.5.13，DAK-R通過(guo)分析共振頻率(lv)和(he)品質(zhi)因數(shu)（Q），確定樣品的相對介電(dian)常數(shu)和(he)損耗角正切。
頻率范圍 | 同時(shi)測量 10、17、26、35、45GHz |
空腔直徑&共振腔長度(du) | 42mm & 30mm |
待測物要(yao)求 | 片狀(zhuang)固體：厚度0.05-3mm（可堆疊） 尺(chi)寸：≥60*60mm |
量測精度與范(fan)圍 | εr: ±1%， tan δ<0.0001 εr: 1–100 tan δ: 0.00001 - 0.01 |
校準依據(ju) | ILAC-MRA（ISO/IEC 17025 by Swiss Accreditation Service(SCS 108）) |
應用場景 | 低損(sun)耗(hao)材質，電子產(chan)品外殼、電子元件介電材料、涂(tu)層(ceng)、基板 |
